Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 14847-2010
Test mothod for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance
Přeložit název
NORMA vydána dne 10.1.2011
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 14847-2010
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.1.2011
Kód zboží: NS-865732
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
