Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance
Přeložit název
NORMA vydána dne 24.12.1993
Označení normy: GB/T 14847-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 24.12.1993
Kód zboží: NS-1172416
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 26.01.2026 (Počet položek: 2 257 479)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.