Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 14847-1993
Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance
Přeložit název
NORMA vydána dne 24.12.1993
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 14847-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 24.12.1993
Kód zboží: NS-1172416
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Doporučujeme:
