Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method
Přeložit název
NORMA vydána dne 21.5.2021
Označení normy: GB/T 14146-2021
Datum vydání normy: 21.5.2021
Kód zboží: NS-1031991
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 02.08.2026 (Počet položek: 2 290 553)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.