Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Silicon epitaxial layers-determination of carrier concentration-mercury probe voltages-capacitance method
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.10.2009
Označení normy: GB/T 14146-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.10.2009
Kód zboží: NS-864363
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 24.03.2026 (Počet položek: 2 269 385)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.