Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 14145-1993
Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy
Přeložit název
NORMA vydána dne 6.2.1993
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 14145-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 6.2.1993
Kód zboží: NS-864361
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Doporučujeme:
