Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon by etching techniques
Přeložit název
NORMA vydána dne 6.2.1993
Označení normy: GB/T 14142-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 6.2.1993
Kód zboží: NS-864357
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 02.07.2025 (Počet položek: 2 207 218)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.