Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.8.2025
Označení normy: GB/T 14140-2025
Poznámka: K dispozici od: únor 2026
Datum vydání normy: 1.8.2025
Kód zboží: NS-1230555
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 04.09.2025 (Počet položek: 2 231 185)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.