Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
General specification test methods for semiconductor device curve tracers
Automaticky přeložený název:
Obecné specifikace zkušební metody pro polovodičové zařízení stopovačů křivky
NORMA vydána dne 31.12.2012
Označení normy: GB/T 13973-2012
Datum vydání normy: 31.12.2012
Kód zboží: NS-348397
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 22.06.2026 (Počet položek: 2 284 351)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.