Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Method for measuring crystallographic orientation of flats on single-crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.10.2009
Označení normy: GB/T 13388-2009
Datum vydání normy: 30.10.2009
Kód zboží: NS-863059
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 08.05.2026 (Počet položek: 2 276 678)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.