Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 13388-1992
Method for measuring crystallographic orientation of flats on single crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
Přeložit název
NORMA vydána dne 19.2.1992
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 13388-1992
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 19.2.1992
Kód zboží: NS-863058
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Doporučujeme:
