Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for measuring flat length wafers of silicon and other electronic materials
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.10.2009
Označení normy: GB/T 13387-2009
Datum vydání normy: 30.10.2009
Kód zboží: NS-863057
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 08.05.2026 (Počet položek: 2 276 678)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.