Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 13387-2009
Test method for measuring flat length wafers of silicon and other electronic materials
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.10.2009
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 13387-2009
Datum vydání normy: 30.10.2009
Kód zboží: NS-863057
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
EviZak - všechny zákony včetně jejich evidence na jednom místě
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
