Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB 3443-1982
General principles of measuring methods of MOS random access memory for semiconductor integrated circuits
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.1.1982
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | Není skladem |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: GB 3443-1982
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1982
Kód zboží: NS-1234515
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Doporučujeme:
