Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E ÖVE EN IEC 63287-4 (Návrh)
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans -- Part 4: Early failure assessment (IEC 47/2917/CDV) (english version)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.7.2025
Informace o normě:
Označení normy: E ÖVE EN IEC 63287-4
Datum vydání normy: 1.7.2025
Kód zboží: NS-1224830
Počet stran: 16
Přibližná hmotnost: 48 g (0.11 liber)
Země: Rakouská technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy ÖNORM
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
