Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Bias-Temperature Stability Test for MOSFET.
Automaticky přeložený název:
Bias - Teplotní stabilita Zkouška na MOSFET.
NORMA vydána dne 1.9.2004
Označení normy: E DIN IEC 62373:2004-09
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.9.2004
Kód zboží: NS-303958
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Stabilität von MOSFET unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung.
Poslední aktualizace: 31.10.2025 (Počet položek: 2 241 750)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.