Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E DIN IEC 62047-8:2008-05 (Návrh)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové přístroje - Micro - elektromechanická zařízení - Část 8 : Strip ohýbání zkušební metodu pro měření tahu vlastností tenkých vrstev.
NORMA vydána dne 1.5.2008
Informace o normě:
Označení normy: E DIN IEC 62047-8:2008-05
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.5.2008
Kód zboží: NS-303804
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy E DIN IEC 62047-8:2008-05 :
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 8: Streifen-Biege-Prüfverfahren zur Messung von Zugbeanspruchungsmerkmalen dünner Schichten.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
