Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: A method for fatigue testing thin film materials using the resonant vibration of a MEMS structure.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové přístroje - Micro - elektromechanická zařízení - Část 12 :Metoda pro únavové zkoušky tenkých filmových materiálů pomocí rezonanční vibrace struktury MEMS.
NORMA vydána dne 1.5.2010
Označení normy: E DIN IEC 62047-12:2010-05
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.5.2010
Kód zboží: NS-303796
Počet stran: 46
Přibližná hmotnost: 138 g (0.30 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 12: Verfahren zur Prüfung der Ermüdungsfestigkeit von Dünnschichtwerkstoffen unter Verwendung der Resonanzschwingungen bei MEMS-Strukturen.
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 06.07.2025 (Počet položek: 2 207 474)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.