Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: A method for fatigue testing thin film materials using the resonant vibration of a MEMS structure.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové přístroje - Micro - elektromechanická zařízení - Část 12 :Metoda pro únavové zkoušky tenkých filmových materiálů pomocí rezonanční vibrace struktury MEMS.
NORMA vydána dne 1.5.2010
Označení normy: E DIN IEC 62047-12:2010-05
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.5.2010
Kód zboží: NS-303796
Počet stran: 46
Přibližná hmotnost: 138 g (0.30 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 12: Verfahren zur Prüfung der Ermüdungsfestigkeit von Dünnschichtwerkstoffen unter Verwendung der Resonanzschwingungen bei MEMS-Strukturen.
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 25.01.2026 (Počet položek: 2 257 482)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.