Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E DIN IEC 62047-11:2010-06 (Návrh)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for linear thermal expansion coefficients of MEMS materials.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové přístroje - Micro - elektromechanická zařízení - Část 11 : Zkušební metoda pro lineární tepelné roztažnosti koeficientu MEMS materiálů.
NORMA vydána dne 1.6.2010
Informace o normě:
Označení normy: E DIN IEC 62047-11:2010-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2010
Kód zboží: NS-303795
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy E DIN IEC 62047-11:2010-06 :
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 11: Prüfverfahren für lineare thermische Ausdehnungskoeffizienten für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik.
Doporučujeme:
