Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E DIN IEC 60749-37:2005-12 (Návrh)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method of components for handheld electronic products.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 37 : Board level kapka Metoda komponent pro ruční elektronických produktů.
NORMA vydána dne 1.12.2005
Informace o normě:
Označení normy: E DIN IEC 60749-37:2005-12
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.12.2005
Kód zboží: NS-303089
Počet stran: 37
Přibližná hmotnost: 111 g (0.24 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy E DIN IEC 60749-37:2005-12 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren freier Fall von Bauelementen auf Leiterplatten für tragbare elektronische Geräte.
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
