Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E DIN IEC 60749-35:2004-12 (Návrh)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for non-hermetic encapsulated electronic components.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 35: Akustická mikroskopie pro non - hermetických zapouzdřených elektronických součástek.
NORMA vydána dne 1.12.2004
Informace o normě:
Označení normy: E DIN IEC 60749-35:2004-12
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.12.2004
Kód zboží: NS-303088
Počet stran: 34
Přibližná hmotnost: 102 g (0.22 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy E DIN IEC 60749-35:2004-12 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik.
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
