Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test procedures for semiconductor charged-particle detectors; identical with IEC 60333:1983.
Automaticky přeložený název:
Zkušební postupy pro detektory nabitých částic ; identický s IEC 60333 : 1983.
NORMA vydána dne 1.10.1990
Označení normy: E DIN IEC 60333:1990-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.10.1990
Kód zboží: NS-302718
Počet stran: 44
Přibližná hmotnost: 132 g (0.29 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Prüfverfahren für Halbleiterdetektoren für geladene Teilchen.
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 11.09.2026 (Počet položek: 2 300 165)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.