Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E DIN EN IEC 63616:2026-07 (Návrh)
VDE 0887-969-73. Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method.
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.7.2026
Informace o normě:
Označení normy: E DIN EN IEC 63616:2026-07
Datum vydání normy: 1.7.2026
Kód zboží: NS-1274795
Počet stran: 13
Přibližná hmotnost: 39 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy E DIN EN IEC 63616:2026-07 :
VDE 0887-969-73. Messung der Leitfähigkeit von Metalldünnschichten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
