Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E DIN EN IEC 60749-37:2023-02 (Návrh)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer.
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.2.2023
Informace o normě:
Označení normy: E DIN EN IEC 60749-37:2023-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.2.2023
Kód zboží: NS-1100663
Počet stran: 42
Přibližná hmotnost: 126 g (0.28 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy E DIN EN IEC 60749-37:2023-02 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
