Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E DIN EN 62047-18:2011-06 (Návrh)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bending test methods of thin film materials.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové přístroje - Micro - elektromechanická zařízení - Část 18: Ohýbání zkušební metody tenkých filmových materiálů.
NORMA vydána dne 1.6.2011
Informace o normě:
Označení normy: E DIN EN 62047-18:2011-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2011
Kód zboží: NS-292593
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy E DIN EN 62047-18:2011-06 :
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe.
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
