Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E DIN EN 62047-18:2011-06 (Návrh)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bending test methods of thin film materials.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové přístroje - Micro - elektromechanická zařízení - Část 18: Ohýbání zkušební metody tenkých filmových materiálů.
NORMA vydána dne 1.6.2011
Informace o normě:
Označení normy: E DIN EN 62047-18:2011-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2011
Kód zboží: NS-292593
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy E DIN EN 62047-18:2011-06 :
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe.
Doporučujeme:
EviZak - všechny zákony včetně jejich evidence na jednom místě
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
