Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN V VDE V 0126-18-2-1:2007-06
VDE V 0126-18-2-1. Solar wafers - Part 2-1: Measuring the geometric dimensions of silicon wafers - Wafer thickness.
Automaticky přeložený název:
VDE V 0126-18-2-1. Solární oplatky - Část 2-1 : Měření geometrických rozměrů křemíkových plátků - tloušťce oplatky.
NORMA vydána dne 1.6.2007
Informace o normě:
Označení normy: DIN V VDE V 0126-18-2-1:2007-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2007
Kód zboží: NS-599279
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy DIN V VDE V 0126-18-2-1:2007-06 :
VDE V 0126-18-2-1. Solarscheiben - Teil 2-1: Messung der geometrischen Dimension von Siliciumscheiben - Scheibendicke.
Doporučujeme:
