Norma DIN SPEC 52407:2015-03 1.3.2015 náhled

DIN SPEC 52407:2015-03

Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM).

Automaticky přeložený název:

Nanotechnologie - Metody pro přípravu a hodnocení pro měření částic se mikroskopie atomárních sil (AFM) a přenos rastrovací elektronové mikroskopie (TSEM).



NORMA vydána dne 1.3.2015


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1626.30 bez DPH
1 626.30

Informace o normě:

Označení normy: DIN SPEC 52407:2015-03
Datum vydání normy: 1.3.2015
Kód zboží: NS-580187
Počet stran: 23
Přibližná hmotnost: 69 g (0.15 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Kategorie - podobné normy:

Nanotechnologie

Anotace textu normy DIN SPEC 52407:2015-03 :

Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM).



Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.