Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM).
Automaticky přeložený název:
Nanotechnologie - Metody pro přípravu a hodnocení pro měření částic se mikroskopie atomárních sil (AFM) a přenos rastrovací elektronové mikroskopie (TSEM).
NORMA vydána dne 1.3.2015
Označení normy: DIN SPEC 52407:2015-03
Datum vydání normy: 1.3.2015
Kód zboží: NS-580187
Počet stran: 23
Přibližná hmotnost: 69 g (0.15 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM).
1.9.2008
1.12.2012
1.6.2014
NEPLATNÁ
1.3.2015
NEPLATNÁ
1.3.2015
NEPLATNÁ
1.3.2015
Poslední aktualizace: 21.08.2026 (Počet položek: 2 298 377)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.