Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN EN IEC 60749-37:2023-12
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer.
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.12.2023
Informace o normě:
Označení normy: DIN EN IEC 60749-37:2023-12
Datum vydání normy: 1.12.2023
Kód zboží: NS-1156577
Počet stran: 23
Přibližná hmotnost: 69 g (0.15 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy DIN EN IEC 60749-37:2023-12 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes.
Doporučujeme:
EviZak - všechny zákony včetně jejich evidence na jednom místě
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
