Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN EN 60749-3:2018-01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination.
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.1.2018
Informace o normě:
Označení normy: DIN EN 60749-3:2018-01
Datum vydání normy: 1.1.2018
Kód zboží: NS-801232
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy DIN EN 60749-3:2018-01 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.
Doporučujeme:
