Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN 51456:2013-10
Testing of materials for semiconductor technology - Surface analysis of silicon wafers by multielement determination in aqueous analysis solutions using mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS).
Automaticky přeložený název:
Testování materiálů pro polovodičové technologie - Povrchová analýza křemíkových desek podle multielement stanovení ve vodných roztocích analýzy pomocí hmotnostní spektrometrie s indukčně vázaným plazmatem (ICP-MS).
NORMA vydána dne 1.10.2013
Informace o normě:
Označení normy: DIN 51456:2013-10
Datum vydání normy: 1.10.2013
Kód zboží: NS-204698
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy DIN 51456:2013-10 :
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Oberflächenanalyse von Silicium-Halbleiterscheiben (Wafer) durch Multielementbestimmung in wässrigen Analysenlösungen mittels Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS).
Podobné normy:
NEPLATNÁ
1.11.2009
1.9.1994
1.10.2002
1.6.2003
1.10.2001
1.1.2000
Doporučujeme:
