DIN 50451-4:2007-02..
E DIN 50451-6:2012-1..
DIN 50452-1:1995-11..
DIN 50452-3:1995-10..
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN 50455-2:1999-11
Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists.
Automaticky přeložený název:
Zkoušení materiálů na polovodičové technologie - postupy při charakterizaci fotoresisty - Část 2: Stanovení na světlo pozitivních fotoresisty.
NORMA vydána dne 1.11.1999
Informace o normě:
Označení normy: DIN 50455-2:1999-11
Datum vydání normy: 1.11.1999
Kód zboží: NS-203879
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy DIN 50455-2:1999-11 :
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von Positiv-Fotolacken.
Podobné normy:
NEPLATNÁ
1.2.2007
NEPLATNÁ
1.3.2010
NEPLATNÁ
1.11.2012
1.11.1995
1.10.2009
NEPLATNÁ
1.10.1995
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
