Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN 50453-1:1990-10
Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium monocrystals; gravimetric method.
Automaticky přeložený název:
Zkoušení materiálů na polovodičových technologií; stanovení sazeb etch leptání směsí; křemíku monokrystalů; gravimetrie.
NORMA vydána dne 1.10.1990
Informace o normě:
Označení normy: DIN 50453-1:1990-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.10.1990
Kód zboží: NS-203870
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy DIN 50453-1:1990-10 :
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Ätzraten von Ätzmischungen; Silicium-Einkristalle; Gravimetrisches Verfahren.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
