ČSN EN IEC 61967-1-ed.2 (358798)

Kategorie - podobné normy:

Integrované obvody. Mikroelektronika

Anotace textu normy ČSN EN IEC 61967-1-ed.2 (358798):

Tato norma stanovuje obecné informace a definice pro měření elektromagnetického rušení šířeného vedením a vyzařovaného elektromagnetického rušení z integrovaných obvodů. Stanovuje také měřicí podmínky, zkušební zařízení, nastavení, stejně jako zkušební postupy a obsah zkušebních zpráv. Příloha A pomáhá při výběru vhodné zkušební metody (metod).

Předmětem této normy je stanovit obecné podmínky pro případ stanovení jednotného zkušebního prostředí a získat kvantitativní opatření proti RF rušení, které produkuje integrovaný obvod (IC). Stanovuje kritické parametry, které mají vliv na zkušební výsledky. Odchylky od této normy jsou uvedeny v individuální zkušební zprávě. Výsledky měření mohou být použity pro srovnání, nebo další účely.

Měření napětí a proudu, které doprovází RF emise šířené vedením nebo vyzářené RF rušení, které vychází z integrovaného obvodu za řízených podmínek, poskytuje informaci o možných RF rušeních při aplikaci integrovaného obvodu.

V každé části IEC 61967 je uveden vhodný kmitočtový rozsah