ČSN EN IEC 60904-1-ed.3 (364604)

Fotovoltaické součástky - Část 1: Měření fotovoltaických voltampérových charakteristik. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).

Přeložit název

NORMA vydána dne 1.7.2021


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena434.00 bez DPH
434.00

Informace o normě:

Označení normy: ČSN EN IEC 60904-1-ed.3
Třídící znak: 364604
Katalogové číslo: 512823
Datum vydání normy: 1.7.2021
Kód zboží: NS-1028257
Počet stran: 44
Přibližná hmotnost: 132 g (0.29 liber)
Země: Česká technická norma
Kategorie: Technické normy ČSN

Kategorie - podobné normy:

Technika sluneční energie

Anotace textu normy ČSN EN IEC 60904-1-ed.3 (364604):

Tato část IEC 60904 popisuje postupy pro měření charakteristik proudového napětí (křivky I-V) fotovoltaických (PV) zařízení v přirozeném nebo simulovaném slunečním světle. Tyto postupy jsou použitelné pro jeden PV solární článek, podsestavu FV solárních článků nebo PV modul. Jsou použitelné pro jednofázové monofaciální PV zařízení. U ostatních typů zařízení se odkazuje na příslušné dokumenty, zejména u zařízení s více spoji podle IEC 60904-1-1 a u bifaciálních zařízení podle IEC TS 60904-1-2. Dále jsou poskytovány informativní přílohy týkající se měření plochy PV zařízení (příloha A), FV zařízení s kapacitou (příloha B), měření charakteristik proudového napětí-napětí (tmavé křivky IV) (příloha C) a účinků prostorové nerovnoměrnosti ozáření (Příloha D).Metody uvedené v tomto dokumentu lze také použít jako vodítko pro vytváření I-V křivek PV polí. Pro měření na místě viz IEC 61829. Tento dokument je použitelný pro nekoncentrující se fotovoltaické zařízení pro použití v pozemním prostředí, s odkazem na (obvykle, ale ne výlučně) globální referenční spektrální ozáření AM1.5 definované v IEC 60904-3. Může to být také použitelné na fotovoltaické zařízení pro použití při koncentrovaném ozáření, pokud aplikace používá přímé sluneční světlo a místo toho se odkazuje na přímou referenční spektrální ozáření AM1.5d v IEC 60904-3. Účelem tohoto dokumentu je stanovit základní požadavky na měření křivek I-V PV zařízení, definovat postupy pro různé používané měřicí techniky a ukázat postupy pro minimalizaci nejistoty měření. Je použitelný pro měření I-V křivek obecně

Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:

Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.