Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ČSN EN 60749-29-ed.2 (358799)
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 29: Zkouška zavření. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
NORMA vydána dne 1.12.2011
Informace o normě:
Označení normy: ČSN EN 60749-29-ed.2
Třídící znak: 358799
Katalogové číslo: 89811
Datum vydání normy: 1.12.2011
Kód zboží: NS-158228
Počet stran: 36
Přibližná hmotnost: 108 g (0.24 liber)
Země: Česká technická norma
Kategorie: Technické normy ČSN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy ČSN EN 60749-29-ed.2 (358799):
Tato norma zahrnuje I-zkoušku a přepěťovou zkoušku zavření pro integrované obvody.
Tato zkouška je považována za destruktivní.
Účelem této zkoušky je stanovit metodu, která určí zavření (Latch-up) integrovaných obvodů (IO) a definuje kriteria poruch zavření. Charakteristiky zavření jsou používány na stanovení spolehlivosti výrobku "zjištění bezporuchovosti" (NTF) a minimalizaci poruchy způsobené "elektrickým přepětím" (EOS) během zkoušky zavření.
Tuto zkušební metodu je možno aplikovat pro CMOS součástky. Použitelnost pro ostatní technologie musí být stanovena.
Klasifikace zkoušek zavření jako funkce teploty je definována v 3.1 a kriteria úrovně poruch jsou uvedena v 3.2
Náhled normy ČSN EN 60749-29-ed.2 (358799)
Podobné normy:
1.4.2003
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
1.6.2004
NEPLATNÁ
1.7.2011
Doporučujeme:
