Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 25498:2010
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope.
Automaticky přeložený název:
Analýza Microbeam. Analytická elektronová mikroskopie. Vybrané-oblast elektronová difrakce analýza pomocí transmisního elektronového mikroskopu
NORMA vydána dne 30.6.2010
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 25498:2010
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.6.2010
Kód zboží: NS-112965
Počet stran: 40
Přibližná hmotnost: 120 g (0.26 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
