Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 23812:2009
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials.
Automaticky přeložený název:
Povrchu chemické analýzy. Sekundární-ion hmotnostní spektrometrie. Způsob kalibrace hloubky po křemíku pomocí více delta-vrstvy referenční materiály
NORMA vydána dne 31.5.2009
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 23812:2009
Datum vydání normy: 31.5.2009
Kód zboží: NS-112777
Počet stran: 30
Přibližná hmotnost: 90 g (0.20 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS ISO 23812:2009 :
ISBN: 978 0 580 55765 1 Status: Confirmed
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
