Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 23170:2022
Surface chemical analysis. Depth profiling. Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering.
Přeložit název
NORMA vydána dne 3.8.2022
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 23170:2022
Datum vydání normy: 3.8.2022
Kód zboží: NS-1069629
Počet stran: 38
Přibližná hmotnost: 114 g (0.25 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS ISO 23170:2022 :
ISBN: 978 0 539 14473 4 Status: Definitive
Doporučujeme:
