Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 22415:2019
Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials.
Přeložit název
NORMA vydána dne 14.5.2019
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 22415:2019
Datum vydání normy: 14.5.2019
Kód zboží: NS-949179
Počet stran: 38
Přibližná hmotnost: 114 g (0.25 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS ISO 22415:2019 :
ISBN: 978 0 580 98908 7 Status: Confirmed
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
