Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 20263:2017
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials.
Přeložit název
NORMA vydána dne 4.1.2018
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 20263:2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 4.1.2018
Kód zboží: NS-804643
Počet stran: 54
Přibližná hmotnost: 162 g (0.36 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
