Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 20263:2017
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials.
Přeložit název
NORMA vydána dne 4.1.2018
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 20263:2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 4.1.2018
Kód zboží: NS-804643
Počet stran: 54
Přibližná hmotnost: 162 g (0.36 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
