Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials.
Přeložit název
NORMA vydána dne 4.1.2018
Označení normy: BS ISO 20263:2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 4.1.2018
Kód zboží: NS-804643
Počet stran: 54
Přibližná hmotnost: 162 g (0.36 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Poslední aktualizace: 28.08.2026 (Počet položek: 2 298 625)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.