Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 17560:2014
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of boron in silicon.
Automaticky přeložený název:
Povrchu chemické analýzy. Sekundární-ion hmotnostní spektrometrie. Způsob hloubkové profilování boru v křemíku
NORMA vydána dne 30.9.2014
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 17560:2014
Datum vydání normy: 30.9.2014
Kód zboží: NS-111728
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS ISO 17560:2014 :
ISBN: 978 0 580 85636 5 Status: Confirmed
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
