Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 17560:2002
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of boron in silicon.
Automaticky přeložený název:
Povrchová chemické analýzy. Sekundární - ion hmotnostní spektrometrie. Metoda pro hloubkové profilování boru v křemíku
NORMA vydána dne 28.8.2002
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 17560:2002
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 28.8.2002
Kód zboží: NS-111727
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Doporučujeme:
