Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 17470:2014
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.
Automaticky přeložený název:
Analýza Microbeam. Sonda Electron mikroanalýzy. Pokyny pro analýzu kvalitativního hlediska vlnové délky disperzní rentgenové spektrometrie
NORMA vydána dne 31.1.2014
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 17470:2014
Datum vydání normy: 31.1.2014
Kód zboží: NS-111700
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS ISO 17470:2014 :
ISBN: 978 0 580 84121 7 Status: Revision Underway
Podobné normy:
NEPLATNÁ
12.8.2004
NEPLATNÁ
31.3.2013
31.10.2011
NEPLATNÁ
28.2.2007
30.4.2013
NEPLATNÁ
30.4.2013
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
