NEPLATNÁ BS ISO 17470:2004 29.9.2004 náhled

BS ISO 17470:2004

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.

Automaticky přeložený název:

Analýza Microbeam. Sonda Electron mikroanalýza. Pokyny pro analýzu kvalitativní bod podle vlnové délky disperzní rentgenovou spektrometrií



NORMA vydána dne 29.9.2004


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena4575.10 bez DPH
4 575.10

Informace o normě:

Označení normy: BS ISO 17470:2004
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 29.9.2004
Kód zboží: NS-111699
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.