Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy.
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.9.2010
Označení normy: BS ISO 17331:2004+A1:2010
Datum vydání normy: 30.9.2010
Kód zboží: NS-967336
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 64479 5 Status: Definitive
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 19.08.2026 (Počet položek: 2 298 207)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.