BS ISO 17109:2022-TC

Tracked Changes. Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films.

NORMA vydána dne 3.1.2023

Informace o normě:

Označení normy: BS ISO 17109:2022-TC
Datum vydání normy: 3.1.2023
Kód zboží: NS-1098761
Počet stran: 68
Přibližná hmotnost: 204 g (0.45 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS