Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 17109:2022
Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films.
Přeložit název
NORMA vydána dne 31.3.2022
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 17109:2022
Datum vydání normy: 31.3.2022
Kód zboží: NS-1197867
Počet stran: 32
Přibližná hmotnost: 96 g (0.21 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS ISO 17109:2022 :
ISBN: 978 0 539 19125 7 Status: Definitive
Doporučujeme:
