Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 17109:2015
Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy. Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films.
Automaticky přeložený název:
Povrchová chemické analýzy. Hloubka profilování. Metoda prskat stanovení sazeb v X -ray fotoelektronové spektroskopie , Auger elektronová spektroskopie a sekundární iontová hmotnostní spektrometrie hloubka elektroda profilování pomocí jedno a vícevrstvých tenkých vrstev
NORMA vydána dne 31.8.2015
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 17109:2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 31.8.2015
Kód zboží: NS-612997
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
