Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 17109:2015
Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy. Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films.
Automaticky přeložený název:
Povrchová chemické analýzy. Hloubka profilování. Metoda prskat stanovení sazeb v X -ray fotoelektronové spektroskopie , Auger elektronová spektroskopie a sekundární iontová hmotnostní spektrometrie hloubka elektroda profilování pomocí jedno a vícevrstvých tenkých vrstev
NORMA vydána dne 31.8.2015
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 17109:2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 31.8.2015
Kód zboží: NS-612997
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Doporučujeme:
EviZak - všechny zákony včetně jejich evidence na jednom místě
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
