Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 16531:2013
Surface chemical analysis. Depth profiling. Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS.
Automaticky přeložený název:
Povrchu chemické analýzy. Hloubka profilování. Metody pro zarovnání iontovým svazkem a související měření proudu nebo proudové hustoty pro hloubkové profilování AES a XPS
NORMA vydána dne 31.5.2013
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 16531:2013
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 31.5.2013
Kód zboží: NS-111396
Počet stran: 30
Přibližná hmotnost: 90 g (0.20 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Doporučujeme:
