Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 16413:2020
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry. Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting.
Přeložit název
NORMA vydána dne 18.8.2020
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 16413:2020
Datum vydání normy: 18.8.2020
Kód zboží: NS-1002512
Počet stran: 42
Přibližná hmotnost: 126 g (0.28 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS ISO 16413:2020 :
ISBN: 978 0 539 01652 9 Status: Definitive
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
