Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 16413:2013
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry. Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting.
Automaticky přeložený název:
Vyhodnocení tloušťky, hustoty a šířky rozhraní tenkých filmů X-ray reflektometrie. Instrumentální požadavky, zarovnání a umístění, sběr dat, analýzu dat a podávání zpráv
NORMA vydána dne 31.3.2013
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 16413:2013
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 31.3.2013
Kód zboží: NS-111357
Počet stran: 42
Přibližná hmotnost: 126 g (0.28 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
