Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 14706:2014
Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy.
Automaticky přeložený název:
Povrchu chemické analýzy. Stanovení povrchové elementárního kontaminace křemíkových plátků podle celkové-reflexe X-ray fluorescence (TXRF) spektroskopie
NORMA vydána dne 31.7.2014
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 14706:2014
Datum vydání normy: 31.7.2014
Kód zboží: NS-110650
Počet stran: 36
Přibližná hmotnost: 108 g (0.24 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS ISO 14706:2014 :
ISBN: 978 0 580 82725 9 Status: Under Review
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
